邀请您参加“第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会”
发布时间：2020/04/21
第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA2019）将于2019年10月23-26日，在北京国家会议中心举行。
将继续坚持“分析科学创造未来”的愿景，围绕“生命生活生态——面向绿色未来”的主题组织学术报告会、专题论坛和仪器展，使BCEIA更贴近社会发展的需要。
EM科特携台式扫描电镜/桌面式扫描电镜将出席本次会议，欢迎专家学者、业内人士以及各界科技人员光临第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会！
扫描电子显微镜 (SEM) 可通过使用聚焦的电子束对样品进行扫描来生成图像。样品中原子与电子的相互作用会产生含有表面形貌特征和组成信息的信号。
EM科特是高端扫描电子显微镜品牌，专注于扫描电镜的设计与研发，为您提供优秀分辨率和分析性能科研平台。EM科特台式扫描电镜拥有高达5nm的分辨率满足各类高精度材料微观形貌的观察与观测，可以获取微小粒子、表面、纳米结构、薄膜、涂层和多层的图像信。EM科特扫描电镜机身小巧，不受场地约束，只需放在稳定的平台上便可快速测量样品，提高实验室利用率。
扫描电镜广泛用于金属材料、非金属材料、纳米材料、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的防治、刑事侦察、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等领域
会议时间：2019年10月23-26日
会议地点：北京•国家会议中心C区
